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CGJDN-1200型超高溫介電溫譜儀是一款提供超高溫環(huán)境的高溫介電溫譜儀，該儀器采用紅外鍍金聚焦?fàn)t或電加熱技術(shù), 雙屏蔽高頻測(cè)試線纜、抗電網(wǎng)諧波模塊，確保高頻弱信號(hào)測(cè)量穩(wěn)定性. 支持4個(gè)樣品同步測(cè)量，提升效率, 可疊加0–5000V直流高壓，研究材料在外電場(chǎng)下的性能變化,是目前高校和研究所研究材料的重要設(shè)備。
GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是一款超低頻高低溫四通道介電測(cè)試系統(tǒng)，科研級(jí)別是國家科研院所和高等學(xué)府選用設(shè)備。
高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測(cè)試與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便，可靈活定制測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試材料的介電頻譜、
高低溫介電測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測(cè)試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
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