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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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ZJ-3型壓電薄膜測試儀是一款即可測量薄膜材料的D33系數(shù),也可以測量塊體材料的靜壓電D33系數(shù),該設備測試數(shù)據(jù)準確,性能穩(wěn)定,不僅是可以用科學研究,還可以用于壓電材料的生產,目前在國內外廣泛使用.
目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度,測試時,樣品的電荷是放回到高壓源上,而不是釋放到負載上,通過電滯回線測得的儲能密度一般會大于樣品實際釋放的能量密度,無法正確評估電介質材料的正常放電性能。DCD-100儲能型電介質充放電測試系統(tǒng)專為研究儲能電介質材料快速充放電性能而設計,適用陶瓷、薄膜材料,可進行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲能材料的重要科研設備,是目前高等院校和
DCD-100型儲能電介質充放電測試系統(tǒng)專為研究儲能電介質材料快速充放電性能而設計,適用陶瓷、薄膜材料,可進行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。
PTC/NTC-500高溫熱敏電阻材料參數(shù)測量分析系統(tǒng) 關鍵詞:熱敏材料,電阻,伏安特,電壓
HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測量系統(tǒng)主要用于測量電阻型氣體傳感器材料的氣敏特性,采用兩線或四線電阻測量原理設計開發(fā)。該系統(tǒng)采用外部控溫,使得氣敏元件測試擺脫了對器件的依賴,*保持材料的形貌和結構。測量系統(tǒng)支持動態(tài)配氣系統(tǒng)及高真空抽氣系統(tǒng),從而有利于表征材料在不同的濃度(ppb甚至ppt量級)及氣壓(特別是氧壓)下的氣敏特性。該系統(tǒng)可用于實驗,批量生產中各種納米材料、厚膜/薄膜材料、孔材料、
JZKC-JMZK05A精密阻抗分析儀(頻率:20HZ-10MHZ,精度:0.05%)產品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和標準如IEC和MIL標準的各種測試。 目前該阻抗分析在全國各大學校和科研院所中廣泛使用。