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2021-11-24
+2019-03-25
+2016-07-08
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光學(xué)熱臺JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。 產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。
Instruments拉伸機冷熱臺拉伸機冷熱臺-JK-CH600LSJ型自調(diào)節(jié)拉伸機冷熱臺 是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可選配DIC、視頻引伸計實現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集。
JK-150BPE型半導(dǎo)體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)制冷，配合循環(huán)水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫，實現(xiàn)樣品在開放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)、電學(xué)等測試。
半導(dǎo)體冷熱臺JK-120BCH采用半導(dǎo)體致冷，配合低溫循環(huán)液，實現(xiàn)從-40到180℃（選型）的控溫。 結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測試 氣密腔室設(shè)計，可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制
半導(dǎo)體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導(dǎo)體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點。可以實現(xiàn)變溫光學(xué)測試，或者選配探針實現(xiàn)變溫電學(xué)測試。
探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。
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