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JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學信號的設(shè)備。可以實現(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷，可以在防輻射屏內(nèi)營造一個穩(wěn)定的測試環(huán)境。在特殊材料，半導體器件等研究方向具有廣泛運用。

JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現(xiàn)低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜。此設(shè)備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。